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étalonnage ultra haute résolution 70nm (forafm, SEM, Auger et FIB)
étalonnage ultra haute résolution 70nm (pour AFM, SEM, Auger et FIB)
Détails du produit

Stripes70 nmEspacement, arrangement unidimensionnel, précision à ±0,25 nm. deux catégories avec et sans certificat. L'espacement avec le certificat doit se référer aux chiffres réels sur le certificat. Bandes holographiques précises pour microscope à très haute résolution (25kx à 1000kx), l'étalonnage précis de la direction horizontale, ainsi que l'étalonnage précis des instruments à l'échelle nanométrique, etc. Avec des caractéristiques de haute stabilité et de haute applicabilité.

Taille de la tranche de silicium:4×3×0,5 mm, fabrication de silice à motifs (largeur de crête35 nm, haute35 nm, aucun étalonnage pour ce paramètre).

Les produits proposés sont disponibles en deux modèles:Modèle 70-1DetModèle 70-1DUTC. dontModèle 70-1Détalonnage de l'échantillon,Avec certification du fabricant,Non - traçabilité;Modèle 70-1DUTCétalonnage de l'échantillon,Certification,Source traçable,Fournir un certificat (PTB, homologue allemande du NIST).

Informations de commande:

Numéro de cargaison

Nom du produit

spécification

80127-1D

Modèle 70-1D, Standard d'étalonnage, Non monté

un

80127-1D-X

Idem, peut fournir une table d'échantillon avec des chevilles; Ou exclusivement pourAFMLe (15 mmacier inoxydabledisque); Ou spécifiez la table d'échantillon

un

80127-1DC

Modèle 70-1DUTC, avec certificat,Démonté

un

80127-1DC-X

Idem, peut fournir une table d'échantillon avec des chevilles; Ou exclusivement pourAFMLe (15 mmacier inoxydabledisque); Ou spécifiez la table d'échantillon

un

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