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Spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie edx8800 (type sous vide)
Introduction simple: spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie edx8800 (type sous vide) L'analyse élémentaire s'étend du sodium (Na) à l'u
Détails du produit
Présentation détaillée:
Spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie edx8800 (type sous vide)
Caractéristiques du produit
1. Adoptez le détecteur de dérive de silicium SDD importé d'origine américaine avancé international (Silicon Drift Detector) avec une résolution plus élevée, améliorant considérablement la limite de détection des éléments légers, la limite de détection standard est 100 fois supérieure à celle du détecteur si - Pin; La plage de mesure est plus large et couvre essentiellement diverses exigences conventionnelles en matière d'analyse élémentaire des matériaux;
2. Configurez le système de traitement intégré des données d'importation d'origine des États - Unis, la vitesse d'acquisition des données est plus rapide, la mesure est plus stable, la répétabilité et la stabilité à long terme sont meilleures;
3. Configurez le logiciel de mesure spécial nouvellement développé, Intégrez plusieurs méthodes de calcul graphique, les données de mesure sont plus précises et plus stables;
4. Le logiciel surveille l'état de fonctionnement des principaux composants de base de l'instrument, il est plus rapide à utiliser;
5. Configurez le système de vide spécialement développé, la performance de vide est meilleure et l'effet d'essai est meilleur;
Paramètres techniques:
1. Analyse élémentaire allant du sodium (Na) à l'uranium (u)
2. L'analyse du contenu élémentaire est comprise entre 1 ppm et 99,99%
3. Limite de détection faible: 1ppm
4. Temps de mesure: 60 - 200 secondes (réglable)
5. Puissance de fonctionnement de l'instrument: ac220 ± 5V
6. La résolution d'énergie est 129 ± 5ev
7. Grand courant de sortie de tube de rayon X: 1ma
8. Pression limite: 6,7 × 10-2Pa
9. Taille de la cavité d'échantillon: 610 * 320 * 100 (mm) (sans vide) / Φ100 * h75 (mm) (cavité d'échantillon sous vide)
10. Répétabilité des mesures multiples (selon l'échantillon standard): ± 0,05% (teneur élevée) / ± 0002% (traces)
11. Stabilité de travail à long terme (selon l'échantillon standard) ±: 0,06% (contenu élevé) / ± 00025% (traces)
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