Résistance de film épais

Capteur de déplacement confocal Spectral lors de la mesure de la résistance d'un film épais, la résistance peut être mesurée à l'état humide. La céramique et la pâte d'argent peuvent être mesurées de manière stable en même temps.

Thinkfocus lance un appareil de mesure sans contact pour la détection de circuits à film épais. Le capteur de déplacement confocal Spectral porte une glissière d'importation de haute précision.

Ultra haute résolution jusqu'au nanomètre

Mesure automatique en un clic, identification automatique de l'épaisseur mesurée, différence de hauteur

Verre, céramique, surface métallique à haute luminosité peuvent être mesurés de manière stable

Mesure sans contact, état sec et humide est disponible

Plate - forme personnalisable pour répondre à la détection de différentes tailles

épaisseur mesurable, différence de hauteur, largeur, rugosité, ondulation, contour, planéité